#
 

LES CONFERENCES

Retour

Test des puces électroniques : L’innovation au service des applications multimédia, automobile et santé.

Avec :

  • Jean-Noël PALAZIN , Program Manager Strategy & Partenariats , NXP Semiconductors
  • Philippe CAUVET , Responsable Test Innovation de NXP Semiconductors , NXP Semiconductors , Co-directeur ISyTest
  • Serge BERNARD , Chargé de recherche CNRS au LIRMM , CNRS , Co-directeur ISyTest

Au cours des deux dernières décennies, les progrès spectaculaires de la micro-électronique ont permis de développer des applications plus performantes et plus complexes. Pour répondre aux nouveaux défis applicatifs, notamment dans les domaines sensibles de la sécurité et de la fiabilité, le développement de méthodes de test innovantes est nécessaire afin de garantir une qualité irréprochable au consommateur. Cette conférence, animée par ISyTest, laboratoire commun entre le LIRMM et NXP, expose la nécessité du test industriel, les principaux verrous scientifiques, les défis de demain et les bénéfices d’un partenariat entre la recherche publique et l’industrie privée.

Organisé par :

Informations pratiques :

Jeudi 05/06/2008 de 11h00 à 11h45 amerique2

imprimer recommander cette conférence à un ami